Post, Regina - Assessment and Application of Defect Characteriz
| Schrijver: | Post, Regina |
|---|---|
| Titel: | Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si. |
| ISBN: | 9783839619179 |
| Taal: | Engels |
| Uitgever: | Fraunhofer Verlag |
| Bijzonderheden: | 2023 172pp Paperback / softback |
| Prijs: | € 86,40 |
| Verzendkosten: | Gratis (binnen Nederland) |
| Meer info: |
Flaptekst The performance limit of monocrystalline silicon solar cells is almost reached. Only |
Verzendkosten 1,75 euro per zending binnen Nederland, vanaf 19,90 euro GEEN verzendkosten binnen Nederland.
Verzendkosten België 3,95 euro per zending.
Bij bestellingen van 10 euro of minder zijn de verzendkosten hoger; zie vermelding bij het boek.
Speciale verzoeken? Meestal geen punt, vermeld ze in het veld opmerking.
De actuele levertijd kunt u vinden op onze website.
De verkoper zal binnen 1 werkdag contact met u opnemen om de koop verder af te handelen.
Let op: dit nieuwe boek is anderstalig en heeft een levertijd van ongeveer 4 werkdagen binnen Nederland
Het huisnummer is ook opgegeven in het straat veld. Gelieve controleren of de velden straat en huisnummer correct zijn opgegeven.
Straat:
Nummer:
- Dit boek is nieuw
- U ontvangt bij ons altijd de laatste beschikbare druk
- Daarom kan de getoonde afbeelding afwijken van het werkelijke boek
- Van toepassing zijn de Algemene Verkoopvoorwaarden Boekstra
- Na uw bestelling ontvangen u en Boekstra een bevestiging per e-mail
- U handelt deze bestelling rechtstreeks af met Boekstra. In de e-mail staan de naam,adres, woonplaats en telefoonnummer van Boekstra vermeld
- Boekstra kan betaling vooraf vragen
- Bekijk hier de algemene voorwaarden van Boekstra.
Onthoud mijn gegevens
Registreer u vrijblijvend als koper!
Besteld, hoe nu verder?
De verkoper zal binnen 1 werkdag contact met u opnemen om de koop verder af te handelen. Afhankelijk van uw locatie heeft u in de meeste gevallen binnen 2 dagen uw bestelling in huis.