Stel een vraag
Met het formulier hier onder kunt u contact op nemen met boekwinkel Boekstra.
Fearn, Sarah - An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
De vraag gaat over de volgende titel:
| Schrijver: | Fearn, Sarah |
|---|---|
| Titel: | An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science |
| ISBN: | 9781681740249 |
| Uitgever: | Morgan & Claypool Publishers |
| Bijzonderheid: | 2015 66pp Paperback / softback |
| Prijs: |
€ 47,50
Gratis
|
| Meer info | Flaptekst Highlights the application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for high-resolution surface analysis and characterization of materials. While providing a brief overview of the principles of SIMS, it also provides examples of how dual-beam ToF-SIMS is used to investigate a range of materials systems and properties. |
| Boek bekijken | |
Verzendkosten 1,75 euro per zending binnen Nederland, vanaf 19,95 euro GEEN verzendkosten binnen Nederland.
Verzendkosten België 2,95 euro per zending.
Minimale bestelafname van 10,- euro, exclusief verzending.
Speciale verzoeken? Meestal geen punt, vermeld ze in het veld opmerking.
De actuele levertijd kunt u vinden op onze website.
De verkoper zal binnen 1 werkdag contact met u opnemen om de koop verder af te handelen.