Alford, Terry L., Mayer, James W., Feldman, L. C. - Fundamental

Schrijver:
Titel: Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
ISBN: 9780387292601
Taal: Engels
Uitgever: Springer US
Bijzonderheden: 2007 352pp Gebonden
Prijs: € 106,90
Verzendkosten: Gratis (binnen Nederland)
Meer info:

Flaptekst

Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis concentrates on analysis of the structure and composition of the surface and the outer few tens to hundred nanometers in depth. It describes characterization techniques to quantify the structure, composition and depth distribution of materials with the use of energetic particles and photons.

The book describes the fundamentals of materials characterization from the standpoint of the incident photons or particles which interrogate nanoscale structures. These induced reactions lead to the emission of a variety of detected of particles and photons. It is the energy and intensity of the detected beams that is the basis of the characterization of the materials. The array of experimental techniques used in nanoscale materials analysis covers a wide range of incident particle and detected beam interactions.

Included are such important interactions as atomic collisions, Rutherford backscattering, ion channeling, diffraction, photon absorption, radiative and nonradiative transitions, and nuclear reactions. A variety of analytical and scanning probe microscopy techniques are presented in detail.

Verder lezen

Boekstra uit Nijverdal

zakelijk

Logo Boekstra

Bij Boekstra koopt u nieuwe boeken tegen de vastgestelde boekenprijs.
Verzendkosten 1,75 euro per zending binnen Nederland, vanaf 19,90 euro GEEN verzendkosten binnen Nederland.
Verzendkosten België 3,95 euro per zending.
Bij bestellingen van 10 euro of minder zijn de verzendkosten hoger; zie vermelding bij het boek.
Speciale verzoeken? Meestal geen punt, vermeld ze in het veld opmerking.
De actuele levertijd kunt u vinden op onze website.

De verkoper zal binnen 1 werkdag contact met u opnemen om de koop verder af te handelen.

Afbeeldingen (Klik om te vergroten)

Alford, Terry L., Mayer, James W., Feldman, L. C. - Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

Let op: dit nieuwe boek is anderstalig en heeft een levertijd van ongeveer 11 werkdagen binnen Nederland

Voer uw gegevens hieronder in om deze titel te bestellen bij Boekstra

Stuur mij de Boekwinkeltjes nieuwsbrief
De captcha wordt geladen. Een ogenblik geduld...
Op het bezoeken van onze website, zo ook het plaatsen van een bestelling, zijn onze Algemene voorwaarden van toepassing.

Het huisnummer is ook opgegeven in het straat veld. Gelieve controleren of de velden straat en huisnummer correct zijn opgegeven.

Straat:
Nummer:

De captcha wordt geladen. Een ogenblik geduld...
 
  • Dit boek is nieuw
  • U ontvangt bij ons altijd de laatste beschikbare druk
  • Daarom kan de getoonde afbeelding afwijken van het werkelijke boek
  • Van toepassing zijn de Algemene Verkoopvoorwaarden Boekstra
  • Na uw bestelling ontvangen u en Boekstra een bevestiging per e-mail
  • U handelt deze bestelling rechtstreeks af met Boekstra. In de e-mail staan de naam,adres, woonplaats en telefoonnummer van Boekstra vermeld
  • Boekstra kan betaling vooraf vragen
  • Bekijk hier de algemene voorwaarden van Boekstra.

Onthoud mijn gegevens

Veilig, snel en eenvoudig bestellingen plaatsen?

Registreer u vrijblijvend als koper!

Veiligheidscode

Uitleg over de veiligheidscode en instellingen

Wijzig veiligheidscode-instellingen

Besteld, hoe nu verder?

Nadat u een bestelling heeft geplaatst wordt er een bevestiging per e-mail verzonden naar u en de verkoper.
De verkoper zal binnen 1 werkdag contact met u opnemen om de koop verder af te handelen. Afhankelijk van uw locatie heeft u in de meeste gevallen binnen 2 dagen uw bestelling in huis.