Stel een vraag
Met het formulier hier onder kunt u contact op nemen met boekwinkel BoekenBinck.
Kaupp, Gerd - Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching / Application to Rough and Natural Surfaces
De vraag gaat over de volgende titel:
| Afbeelding: |
|
|---|---|
| Schrijver: | Kaupp, Gerd |
| Titel: | Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching / Application to Rough and Natural Surfaces |
| ISBN: | 9783540284055 |
| Uitgever: | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG |
| Bijzonderheid: | 2006, 292pp, Gebonden |
| Prijs: |
€ 160,00
€ 8,05
|
| Meer info | Hardcover, goede staat, hele lichte paginaverkleuring aan de randjes. |
| Boek bekijken | |
Zodra U een bestelling heeft geplaatst ontvangt U zo spoedig mogelijk een bevestigings-email van ons.
Alle bestellingen worden zorgvuldig verpakt en na ontvangst van de betaling zo spoedig mogelijk verzonden.
Binnen Nederland kost dit €4,00 in een enveloppe en €7,70 voor een pakket.
Verzenden naar België kost €8,95 met track and trace.
Verzenden naar naar overige buitenlandse bestemmingen is geen probleem, bij vergoeden van de verzendkosten.
Voor vragen kunt U ons altijd een berichtje sturen.
Alle bestellingen worden zorgvuldig verpakt en na ontvangst van de betaling zo spoedig mogelijk verzonden.
Binnen Nederland kost dit €4,00 in een enveloppe en €7,70 voor een pakket.
Verzenden naar België kost €8,95 met track and trace.
Verzenden naar naar overige buitenlandse bestemmingen is geen probleem, bij vergoeden van de verzendkosten.
Voor vragen kunt U ons altijd een berichtje sturen.
De verkoper zal binnen 1 werkdag contact met u opnemen om de koop verder af te handelen.