Stel een vraag
Met het formulier hier onder kunt u contact op nemen met boekwinkel Boekstra.
- Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation
De vraag gaat over de volgende titel:
| Schrijver: | |
|---|---|
| Titel: | Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation |
| ISBN: | 9780415303972 |
| Uitgever: | Taylor & Francis Ltd |
| Bijzonderheid: | 2003 366pp Gebonden |
| Prijs: |
€ 264,60
Gratis
|
| Meer info | Flaptekst Neutron and synchrotron X-ray diffraction have emerged as leading techniques for stress analysis. This book presents an overview of the principles of these techniques and examples of their applications to a range of materials and engineering problems. It contains 20 papers from leading international experts in residual stress analysis covering the |
| Boek bekijken | |
Verzendkosten 1,75 euro per zending binnen Nederland, vanaf 19,90 euro GEEN verzendkosten binnen Nederland.
Verzendkosten België 3,95 euro per zending.
Bij bestellingen van 10 euro of minder zijn de verzendkosten hoger; zie vermelding bij het boek.
Speciale verzoeken? Meestal geen punt, vermeld ze in het veld opmerking.
De actuele levertijd kunt u vinden op onze website.
De verkoper zal binnen 1 werkdag contact met u opnemen om de koop verder af te handelen.