Stel een vraag
Met het formulier hier onder kunt u contact op nemen met boekwinkel Boekstra.
Tompkins, Harland G., Hilfiker, James N. - Spectroscopic Ellipsometry - Practical Application to Thin Film Characterization
De vraag gaat over de volgende titel:
| Afbeelding: |
|
|---|---|
| Schrijver: | Tompkins, Harland G., Hilfiker, James N. |
| Titel: | Spectroscopic Ellipsometry - Practical Application to Thin Film Characterization |
| ISBN: | 9781606507278 |
| Uitgever: | Momentum Press |
| Bijzonderheid: | 2015 178pp Paperback / softback |
| Prijs: |
€ 45,80
Gratis
|
| Meer info | Flaptekst Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the capabilities of this technique and introduced its use into all areas where thin films are found: semiconductor devices, flat panel and mobile displays, optical coating stacks, biological and medical coatings, protective layers, and more. While several scholarly books exist on the topic, this book provides a good introduction to the basic theory of the technique and its common applications. The target audience is not the ellipsometry scholar, but process engineers and students of materials science who are experts in their own fields and wish to use ellipsometry to measure thin film properties without becoming an expert in ellipsometry itself. |
| Boek bekijken | |
Verzendkosten 1,75 euro per zending binnen Nederland, vanaf 19,90 euro GEEN verzendkosten binnen Nederland.
Verzendkosten België 3,95 euro per zending.
Bij bestellingen van 10 euro of minder zijn de verzendkosten hoger; zie vermelding bij het boek.
Speciale verzoeken? Meestal geen punt, vermeld ze in het veld opmerking.
De actuele levertijd kunt u vinden op onze website.
De verkoper zal binnen 1 werkdag contact met u opnemen om de koop verder af te handelen.