Stel een vraag
Met het formulier hier onder kunt u contact op nemen met boekwinkel Boekstra.
Filip (Professor, University of Helsinki, Department of Physics, Finland) Tuomisto - Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
De vraag gaat over de volgende titel:
| Afbeelding: |
|
|---|---|
| Schrijver: | Filip (Professor, University of Helsinki, Department of Physics, Finland) Tuomisto |
| Titel: | Characterisation and Control of Defects in Semiconductors |
| ISBN: | 9781785616556 |
| Uitgever: | Institution of Engineering and Technology |
| Bijzonderheid: | 2019 596pp Gebonden |
| Prijs: |
€ 189,50
Gratis
|
| Meer info | Flaptekst This book provides an up-to-date review of the experimental and theoretical methods used for studying defects in semiconductors, this book focuses on recent developments driven by the requirements of new materials, including nitrides, oxide semiconductors and 2-D semiconductors. |
| Boek bekijken | |
Verzendkosten 1,75 euro per zending binnen Nederland, vanaf 19,90 euro GEEN verzendkosten binnen Nederland.
Verzendkosten België 3,95 euro per zending.
Bij bestellingen van 10 euro of minder zijn de verzendkosten hoger; zie vermelding bij het boek.
Speciale verzoeken? Meestal geen punt, vermeld ze in het veld opmerking.
De actuele levertijd kunt u vinden op onze website.
De verkoper zal binnen 1 werkdag contact met u opnemen om de koop verder af te handelen.