Stel een vraag
Met het formulier hier onder kunt u contact op nemen met boekwinkel Boekstra.
Kaupp, Gerd - Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching - Application to Rough and Natural Surfaces
De vraag gaat over de volgende titel:
| Afbeelding: |
|
|---|---|
| Schrijver: | Kaupp, Gerd |
| Titel: | Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching - Application to Rough and Natural Surfaces |
| ISBN: | 9783642066634 |
| Uitgever: | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG |
| Bijzonderheid: | 2010 292pp Paperback / softback |
| Prijs: |
€ 184,55
Gratis
|
| Meer info | Flaptekst Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm. |
| Boek bekijken | |
Verzendkosten 1,75 euro per zending binnen Nederland, vanaf 19,90 euro GEEN verzendkosten binnen Nederland.
Verzendkosten België 3,95 euro per zending.
Bij bestellingen van 10 euro of minder zijn de verzendkosten hoger; zie vermelding bij het boek.
Speciale verzoeken? Meestal geen punt, vermeld ze in het veld opmerking.
De actuele levertijd kunt u vinden op onze website.
De verkoper zal binnen 1 werkdag contact met u opnemen om de koop verder af te handelen.